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微电子器件实验教程
:刘继芝, 任敏
作者：
刘继芝, 任敏
出版社：
电子工业出版社
出版时间：
2021
ISBN：
978-7-121-41539-5
索书号：
TN4/3
分类号：
TN4
页数：
190页
价格：
55.90
复本数：
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累借天数：
累借次数：
本书共4章, 分别介绍三种基本微电子器件 —— PN结二极管、双极型晶体管 (BJT) 和绝缘栅场效应晶体管 (MOSFET) 的基本工作原理、虚拟仿真实验、测试实验和PSpice模型提取实验。
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索书号
展开
集成电路材料基因组技术
:俞文杰 ...
作者：
俞文杰 ...
出版社：
电子工业出版社
出版时间：
2022
ISBN：
978-7-121-42437-3
索书号：
TN4/5
分类号：
TN4
页数：
XII, 168页
价格：
88.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书系统介绍了材料基因组技术及其在集成电路材料研发中的应用, 主要内容包括: 集成电路概述与发展趋势, 材料基因组技术发展和研究进展, 材料基因组技术在集成电路材料研发中的应用进展及前景, 总结和展望。
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展开
微电子技术创新与实践教程
:陈力颖
作者：
陈力颖
出版社：
清华大学出版社
出版时间：
2020
ISBN：
978-7-302-55010-5
索书号：
TN4/4
分类号：
TN4
页数：
194页
价格：
59.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书包括了第3代半导体材料、新型半导体器件、设计工具与设计方法、集成电路工艺技术等内容, 涵盖了从半导体材料、器件、设计到工艺技术, 立足微电子技术前沿的最新技术成果, 以培养创新实践能力为主线, 将专业教育与创新实践教育有机融合, 以培养创新创业精神为核心, 为微电子专业提供了最新的技术成果, 是微电子专业的创新与实践的最佳指导书。
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索书号
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可测性设计与智能故障诊断
:林海军
作者：
林海军
出版社：
机械工业出版社
出版时间：
2022
ISBN：
978-7-111-71003-5
索书号：
TN4/7
分类号：
TN4
页数：
160页
价格：
69.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书主要从理论和应用方法两个方面对可测性设计与智能故障诊断进行研究, 全书共9章, 分别介绍了可测性设计和故障诊断的发展, 基于沃尔泰拉核的非线性电路智能诊断以及测试激励优化和特征选择与提取, 基于维纳核的非线性模拟电路故障诊断, 模拟电路智能故障诊断系统设计, MIMO非线性系统的建模及故障诊断, 基于信息融合技术的电路故障诊断, 数字电路的可测性设计以及混合电路的可测性设计。
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中文图书
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出版社
电子工业出版社
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机械工业出版社
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清华大学出版社
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电子工业出版社
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作者
俞文杰 ...
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刘继芝, 任敏
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林海军
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陈力颖
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俞文杰 ...
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刘继芝, 任敏
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林海军
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陈力颖
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出版年
2022
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2020
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2021
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