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数字系统测试/(美) Niraj Jha, Sandeep Gupta

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    本书系统地介绍了数字系统测试相关方面的知识, 包括基础内容方面的自动测试向量生成、可测性设计、内建自测试等, 高级内容方面包括IDDQ测试、功能测试、延迟故障测试、CMOS测试等。
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    TP271-43/2 00102253 0 综合文献室 入藏 中文图书
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