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数字系统测试与可测试设计/(美) Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman

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    本书系统地介绍数字系统测试理论和方法, 包括测试生成、故障模型、故障模拟、可测试设计、内建自测试等内容。
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    TP271/2 00092628 0 综合文献室 入藏 中文图书
    TP271/2 00092626 0 综合文献室 入藏 中文图书
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